日本日置IM3570阻抗分析儀適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
　　
　　分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量.
　　
　　日本日置IM3570阻抗分析儀一臺儀器就可以實現不同測量條件的高速檢測要求
　　
　　日本日置發售的IM3570阻抗分析儀的測量頻率4Hz~5MHz，測試電平5mV~5V的LCR電橋與阻抗分析儀合二為一的儀器。因為對應不同測量條件都能高速連續測量，所以在需要使用眾多儀器檢查的生產線上，僅IM3570一臺便可實現。
　　
　　壓電元件的共振特性的測量
　　
　　通過頻率掃頻測量共振頻率和當時的阻抗值，利用比較功能判別是否合格。另外，通過連續測量的功能，1KHz的C值測量（LCR電橋）和頻率掃頻測量都能在這一臺儀器上實現。
　　
　　功能高分子電容等的C-D值和低ESR測量
　　
　　能夠連續測量功能性高分子電容的C-D值以及低ESR（100kHz）
　　
　　與之前的產品（3522-50,3532-50）相比，低阻抗測量時的精度和反復精度都提升了1位。
　　
　　電感（線圈、變壓器）的DCR和L-Q測量
　　
　　連續測量L-Q（1kHz，CC1mA）和DCR，能在同一畫面上顯示數值。
　　
　　通過掃頻測量，能夠用圖表來顯示頻率特性和電平特性。
　　
　　日本日置IM3570阻抗分析儀的介紹
　　
　　推薦用于生產線中的特點和功能
　　
　　按照不同測量條件進行連續測量
　　
　　根據測量對象，1臺儀器可連續測量必須的多種測量條件。例如：可進行DCR（直流電阻）和L-Q的連續測量、以及C-D（120Hz）和ESR（100kHz）的連續測量。
　　
　　通過高速測量加快檢查速度
　　
　　縮短測量時間、實現zui快2ms（1kHz）、1ms（100kHz）。和日置以往產品（代表值5ms）相比，大幅提高了速度，從而有利于增加檢查數量。
　　
　　和以往產品相比，反復精度提高了1位
　　
　　和以往產品相比，將低阻抗測量時、高頻測量時的反復精度提高了1位。在提高了測量值的可信度的同時，可縮小設置生產線的判斷標準的幅度。
　　
　　具備接觸檢查功能
　　
　　利用4端子測量（僅低阻抗高精度模式時）、2端子測量的接觸檢查功能，可防止測量電極為接觸被測物的情況下測量。
　　
　　測量線可延長至4m
　　
　　利用4端子的結構減小測量線的影響，以測量線長0/1/2/4m來保證精度。便于自動機的接線。
　　
　　可在內部發生DC偏壓
　　
　　僅主機可外加并測量zui大2.5V的DC偏壓?？砂残臏y量鉭電容等有極性的電容。
　　
　　DC~5MHz可使用的4端子探頭
　　
　　4端子探頭L2000（選件）采用有利于特性阻抗50Ω和提高測量精度的4端子構造，是于IM3570的探頭。
　　
　　推薦用于研發的特點和功能
　　
　　頻率掃頻測量和電平掃頻測量
　　
　　可對頻率特性（4Hz~5MHz）和電平特性進行掃描和測量。輕松把握特性。
　　
　　可廣范圍的改變測量條件
　　
　　測量頻率4Hz~5MHz（5位分辨率）
　　
　　測量電平5mVrms~5Vrms（1mVrms分辨率）
　　
　　觸摸屏設計，輕松操作
　　
　　延續以往產品中操作簡單的觸摸屏設計。采用了彩色液晶面板，能夠清晰的顯示數據，還具備優良的操作性，從而提高作業人員的工作效率。
　　
　　U盤
　　
　　可將測量結果和設定保存至前端面板連接的U盤中。
　　
　　PC控制和PC軟件
　　
　　標配RS-232C、GP-IB、USB、LAN。
　　
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